设计入口
从指标、频段、工艺与系统约束出发,确定架构路径和关键模块边界。
- 指标拆解频率范围、噪声、功耗、锁定速度
- 架构选择PLL / CDR / 注入锁定 / 分频路径
- 预算分配Noise / Jitter / Loop Bandwidth
模拟与混合信号 IC 设计相关的电路方向、EDA Flow、仿真验证与测试经验。
从指标、频段、工艺与系统约束出发,确定架构路径和关键模块边界。
围绕高速时钟链路与数据恢复链路,完成原理图、版图协同和关键寄生控制。
通过前仿、后仿、PVT/Corner 和高速瞬态验证,把模块指标收敛到系统目标。
结合版图、封装、仪器和数据分析定位问题,形成从设计到测试结果的解释链。
能把频率范围、噪声、功耗、锁定速度、面积和测试可观测性拆成可设计的约束,并判断适合采用环路、注入锁定、分频或搜索控制等路径。
关注高速节点、摆幅、负载、寄生、匹配和工艺波动对电路行为的影响,能在晶体管级和系统级之间来回校验假设。
能够用 PVT、Corner、PEX、环路瞬态和频域指标检查设计边界,区分模型问题、寄生问题、环路问题和测试口径问题。
能把仪器设置、板级环境、封装影响和片上结果联系起来,解释相噪、锁定动态、频率覆盖、能效等指标背后的电路原因。